扩展性好 IC693MDL330 GE 控制器模块 变频器

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天线测量解决方案Microwave VisionGroup（MVG）宣布参加2023年8月20日至23日在哈尔滨举办的全国天线会议，并参与会议同期进行的产品展览，展出其采用了MVG无限采样专利技术的多探头测试系统——SGEvo。

在由多探头测试系统进行的球形天线测量中，DUT在方位角上旋转，而设备周围的电磁场被多探头阵列扫描。对于大型天线和/或工作在更高频率的天线，如毫米波，需要更多的测量点或样本，以尊重奈奎斯特准则，无限制取样是关键。

MVG的无限采样专利技术通过对DUT定位器或探头阵列进行轻微的机械旋转来创造额外的虚拟探头。利用这一无限采样技术，系统提供以达到无限的扫描分辨率。无限采样是通过结合自动化机械运动和探阵列电扫描来实现。

为了测试5G大规模MIMOBTS、卫星及地面终端天线等大型、重型天线，MVG设计出用于进行天线球面近场测试和OTA测试的多探头阵列测试SGEvo系统，该系统在拱形环中整合了无限采样定位功能，减少了被测设备的移动，以提升测试结果的速度和准确性。

由于SGEvo的拱形环采用了MVG无限采样专利技术，无需在多重采样时倾斜被测设备，在测试重型被测设备时也避免了被测设备和方位角定位器的重力偏转。无限采样技术通过旋转加上探针阵列的额外电子扫描，引入了更多的数据收集点，形成了完整的测量球面，从而获得了jingque的分析能力。SGEvo系统能够以前所未有的速度给出的天线性能测试结果。

SGEvo还能通过配备多个平行接收器大幅缩短测量时间, 尤其是在测试大量频率或者具有众多潜在天线波束状态的设备时。

SGEvo的模块化设计还为其架构带来了灵活性: 探头阵列拱形环和定位器模块的尺寸可以根据被测设备的典型尺寸和重量来确定，还可以根据被测频率（400MHz至30 GHz）选择多套探头。凭借MVG无限采样专利技术和这些主要特性，SGEvo能够以快于传统测试方法10-100倍的速度进行测试和测量。

MVG 亚太技术总监Mathieu Mercier表示：“SGEvo适于广泛的应用以及在测试的所有阶段都非常有用，从研发的初始原型测试到生产中全集成设备的终验证测试。无源天线测量和OTA测试均适用于SGEvo。”

除了SGEvo之外，MVG还将在会议期间展示一系列具创新性的5G测试技术和多探针天线测试与测量解决方案。MVG此次参展的展位号是11号，欢迎莅临参观和体验。

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