美国博曼Bowman 第二代镀层测厚仪BA-100 Optics

博曼Bowman镀层测厚仪，用于PCB电路板行业和高端要求的表面处理行业使用。

机器可以测量更小的面积，更多层的镀层，更薄的镀层厚度，测量数据非常稳定。

品牌：博曼Bowman   型号：BA-100 Optics 博曼Bowman中国区总代理

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics机型采用业界先进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100Optics机型是研究开发、质量管控的佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

• 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点

• 射线出射点预置于射线管Be窗正中央

• 长寿命的射线管灯丝

• 独有的预热和ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构

• 显著提高X射线信号强度

• 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

• 小于100um直径的测量斑点

• 经过验证，接近完美的测量精度

性能与可操作性的优化