韩国X射线测厚仪XRF-2000

韩国Micro Pioneer XRF-2000X射线镀层测厚仪集销售、保养、校正（调试）及维修等服务一体化；长期提供XRF-2000测厚仪原装进口零配件（X射线光管、正比例探测器及放大器等）.

XRF-2000能提供各类金属层、合金层厚度的快速、准确、稳定、无损的测量，可对电镀液进行分析，不单性能优越,价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。

膜厚测试符合：ASTMB568 ;   ISO3497;  DIN50987  。

校正标准片：符合NIST规范，附有美国之证明文件。

XRF-2000 系列分为以下三种：

1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。

2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。

3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。

特色 : 非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可分析多种元素。相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。 全系列独特设计样品与光径自动对準系统。标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。 準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。 移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。  独特2D与3D或任意位置表面量测分析。雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体 搭配内建多种报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。

光学2 0X 影像放大功能，更能jingque对位。